CMX DL+無(wú)損檢測超聲波測厚儀的詳細資料：

CMX DL+無(wú)損檢測超聲波測厚儀多層厚度The CMX DL+ 測厚儀不僅有MVX的所有功能，而且還有同時(shí)測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。CMX DL+無(wú)損檢測超聲波測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 測量方式（僅測量基體厚度、同時(shí)測量基體和涂層的厚度、僅測量涂層厚度）

• 顯示模式（數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>）

• 增益可調節：超低、低、中、高、超高

• 增益值可到110dB

• 自動(dòng)增益控制（AGC）

• 時(shí)間增益校正（TCG）

• 探頭自動(dòng)識別，自動(dòng)調零和溫度補償

• 最大值、最小值顯示

• 可存儲64個(gè)用戶(hù)參數設置

• 高速掃查（50次/秒）

• 高達140HZ的脈沖重復頻率

• B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀

• A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）

• 差值測量模式

• 高速掃查功能可用于快速找到壁厚的最小值

• 上/下限聲光報警功能

• 數據存貯：可存儲21000個(gè)測量厚度值或者16000個(gè)測量厚度值和B掃描圖形及參數

• 可通過(guò)軟件與計算機進(jìn)行數據交換，方便用戶(hù)打印檢測報告

• 技術(shù)參數：