產(chǎn)品展示
旗辰測量系統iMOXS的詳細資料:
產(chǎn)品介紹:
借助模塊化X射線(xiàn)源iMOXS(IfG 模塊化X射線(xiàn)源),您可以輕松擴展您的掃描電子顯微鏡(SEM)的功能。iMOXS 使用電子顯微鏡的現有探測器,能夠以較低的成本通過(guò)選定法蘭與所有現有類(lèi)型的SEM結合。您可在SEM的電子源與額外的X射線(xiàn)源之間進(jìn)行選擇,從而利用一臺設備對樣品進(jìn)行 X 射線(xiàn)熒光分析與電子束微量分析。通過(guò)利用這兩種方法的優(yōu)勢,您能夠以非常高的分辨率檢測低濃度元素。
旗辰測量系統iMOXS應用:
1、SEM 映射:快速概覽樣品的元素成分;找出SEM無(wú)法看到的元素
2、故障分析,材料失效與材料疲勞測試
3、在 SEM 中直接進(jìn)行材料分析,例如測定鋁合金中的硅與鋅比例
4、鑒定分析
5、ppm 級的痕量元素證明
6、檢測重元素 (Z > 18)
旗辰測量系統iMOXS特性:
1、模塊化結構設計:X射線(xiàn)管和X射線(xiàn)光學(xué)器件能夠依據特定要求輕松調整
2、可通過(guò)法定法蘭輕松安裝到所有現有原子力顯微鏡上
3、 簡(jiǎn)單操作:可通過(guò)SEM監控器輕松調整并查看測量位置
4、適用于分析低至10 µm的結構:高質(zhì)量的多毛細管光學(xué)器件可將 X 射線(xiàn)聚焦在小型測量區域上。
5、表面下方檢查:即使表面下方深處的材料也能測量