XAN涂鍍層測厚儀的詳細資料:
產(chǎn)品介紹:
XAN® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用并且性?xún)r(jià)比高,因此在同類(lèi)產(chǎn)品中脫穎而出。
XAN涂鍍層測厚儀應用:
(一)鍍層厚度測量
1、厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層。
2、時(shí)尚首飾:對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統進(jìn)行分析。
3、抗磨損鍍層,如:對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量來(lái)進(jìn)行測量。
4、測試納米級的基礎金屬化層(凸點(diǎn)下金屬化層,UBM)。
(二)材料分析
1、測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度。
2、專(zhuān)業(yè)實(shí)驗室、檢測機構以及科研院校中常規的材料的分析。
3、依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則,檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的其它物質(zhì)(例如重金屬)。
4、功能性鍍層的成分,如測定化學(xué)鎳中的磷含量。
XAN涂鍍層測厚儀特性:
1、操作簡(jiǎn)單并且性?xún)r(jià)比高。
2、自下而上來(lái)進(jìn)行測量,從而非??焖?、簡(jiǎn)便地定位樣品。
3、廣泛適用:為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號。
4、以非破壞性的方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析。
5、帶有高性能 X 射線(xiàn)管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型,可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量。