光學(xué)投影儀EP2010測量?jì)x的詳細資料：

光學(xué)投影儀EP2010測量?jì)x
光學(xué)投影儀EP2010測量?jì)x,適用于精密工業(yè)如橫具、工具、螺絲、齒輪、鐘表、自動(dòng)車(chē)床加工、光學(xué)部件、航空等等工業(yè)的制造、設計開(kāi)發(fā)、品管檢驗與學(xué)術(shù)研究用途。
高精密光學(xué)投影儀EP-1,是集光學(xué)，精密機械，電子測量于一體化的精密測量?jì)x器，用于對高精度工作或模具作尺寸、長(cháng)度、形狀、輪廓之精密放大投影檢查，測量比對和測量結果的列表記錄。
高精密光學(xué)投影儀EP-1 2010的特點(diǎn)是：高精設，測量示值誤差達（3+L/100）um,L為被測量長(cháng)度（單位：mm）；在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%.
高精密,隨機已經(jīng)配備ES-10P多功能數據處理電子尺系統，并配有的微型打印機，可將測量結果打印出來(lái)。
幾何測量功能
三點(diǎn)求圓；點(diǎn)測量；兩點(diǎn)求距離；兩點(diǎn)合成線(xiàn)；兩線(xiàn)求交角及交點(diǎn)；四點(diǎn)求交角及交點(diǎn)；線(xiàn)上垂直投點(diǎn)。
高精密，產(chǎn)品的技術(shù)參數：