ORIETG®-X2筆試電磁超聲與渦流復合測厚儀是一款無(wú)需聲耦合劑、非接觸式厚度測量的儀器，可實(shí)現金屬或導磁性物質(zhì)的厚度測量和表面涂層厚度測量。具有下列優(yōu)勢：

 (1) 無(wú)需耦合劑、無(wú)需打磨、無(wú)需接觸，可隔防腐層、漆層測厚。

 電磁超聲技術(shù)對工件表面要求不高，對粗糙表面無(wú)需打磨處理，可實(shí)現非接觸式測量；對涂層不敏感，可實(shí)現含涂層工件的厚度測量，可隔著(zhù)防腐層測厚；無(wú)需聲耦合劑，可實(shí)現高溫工件的厚度測量，可進(jìn)行溫度補償；

 (2) 兼顧電磁超聲測厚和渦流涂層測厚功能。

 主機和探頭集成了電磁超聲測厚傳感器和渦流涂層測厚傳感器，能在測量工件厚度的同時(shí)兼顧測量渦流涂層厚度，測厚靈敏度較上代產(chǎn)品有顯著(zhù)提升。

 (3) 具備具備線(xiàn)掃描功能。

 軟件具備B掃描線(xiàn)掃查功能，方便對腐蝕點(diǎn)進(jìn)行掃查。

 (4) 對工件表面曲率要求低，測厚精度、穩定度較壓電超聲高。

 對測厚技術(shù)人員要求不高，探頭可傾斜、無(wú)需垂直于工件也可測量，數據穩定性高、重復性 好；可以測量小徑管、彎頭內側等區域；特殊設計的測厚算法，測厚精度高，精確到 0.01mm。

 (5) 體積小、方便攜帶，帶保存功能，單人即可完成巡檢工作。