一、光電測徑儀/CCD投影測徑儀

　　光電測徑儀/CCD投影測徑儀由于靠發(fā)光二極管經(jīng)過(guò)投影成像運算的方法來(lái)測量，而且投影的平行光帶不太容易保證，再加上現在平行光管與CCD的技術(shù)的發(fā)展，現在很多企業(yè)開(kāi)始采用CCD成像法測量直徑，其光源采用波長(cháng)較長(cháng)的紅外光，抗干擾較強，由于少了許多機械件，所以設備較穩定可靠，但CCD成像受相素的制約，在精度上不太容易保證，特別是大直徑的物體測量，但又不能太細，太細會(huì )有掃描測徑儀相同的問(wèn)題。

二、激光掃描測徑儀

　　利用衍射掃描原理測量細線(xiàn)的直徑，而且據說(shuō)都是引進(jìn)的德國的技術(shù)，此技術(shù)與前兩項剛好相反，只適用于測小直徑的細絲，而且越細越好，因為此技術(shù)是利用衍射原理，理論只有當波長(cháng)與被測物相近或大于被測長(cháng)物時(shí)衍射zui明顯。