涂層測厚儀的選型及影響因素

 涂層測厚儀的選型及影響因素
  用戶(hù)可以根據測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米，這類(lèi)儀器又分探頭與主機一體型，探頭與主機分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測厚儀來(lái)測，測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線(xiàn)上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

　　兩用型

　　儀器由德國生產(chǎn)，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：

　　鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

　　鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。

　　銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

　　鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

　　各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

　　儀器符合標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監督檢驗。

　　儀器特點(diǎn)

　　采用雙功能內置式探頭，自動(dòng)識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進(jìn)行準確測量。

　　符合人體工程學(xué)設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數據。

　　采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。

　　可設定上下限值，測量結果超出或符合上下限數值時(shí)，儀器會(huì )發(fā)出相應的聲音或閃爍燈提示。

　　穩定性*，通常不必校正便可長(cháng)期使用。

　　技術(shù)規格

　　量程：0～2000μm,

　　電源：兩節5號電池

　　標準配置

　　常規型

　　對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)和標準中稱(chēng)為覆層（coating）。

　　覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

　　隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

　　采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。

　　影響因素

　　a基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

　　b基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

　　c基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

　　d邊緣效應

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

　　e曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f試件的變形

　　測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

　　g表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

　　g磁場(chǎng)

　　周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　h附著(zhù)物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

　　j測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　應當遵守的規定

　　a基體金屬特性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。

　　c邊緣效應

　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

　　d曲率

　　不應在試件的彎曲表面上測量。

　　e讀數次數

　　通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

　　f表面清潔度

　　測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)

style='font-size:9.0pt; color:black'>　　通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

　　f表面清潔度

　　測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)